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Soquetes de ensaio semicondutores livres de Burr com engenharia de precisão de tolerância estreita

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Soquetes de ensaio semicondutores livres de Burr com engenharia de precisão de tolerância estreita

Burr Free Semiconductor Test Sockets With Tight Tolerance Precision Engineering
Burr Free Semiconductor Test Sockets With Tight Tolerance Precision Engineering

Imagem Grande :  Soquetes de ensaio semicondutores livres de Burr com engenharia de precisão de tolerância estreita

Detalhes do produto:
Lugar de origem: Guangdong, China
Marca: Yiding
Certificação: ISO 9001
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Descrição de produto detalhada
Especificação material: Aço inoxidável 17-4ph (padrão), cobre de berílio (alto ciclo), titânio (leve); níquel opcional ou re Tolerâncias dimensionais: Características críticas - ± 0,005 mm (alinhamento do dispositivo); Corpo geral - ± 0,02 mm
Planicidade/coplanaridade: ≤0,01 mm na superfície do assento (garante pressão de contato uniforme). Largura e profundidade do canal de pino/chumbo: Largura - ± 0,003 mm; Profundidade - ± 0,005 mm (ajustável para deflexão de chumbo).
Precisão de afinação do canal de pino/chumbo: ± 0,005 mm (ICS de arremesso fino), ± 0,01 mm (padrão).
Destacar:

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Soquetes de ensaio semicondutores de engenharia de precisão

Guia do soquete de ensaio do semicondutor
Visão geral do produto
O Guia de Soquetes de Teste de Semicondutores é projetado para fornecer desempenho consistente em milhares de inserções de teste.impede a ação fora do eixo que possa causar uma força de contacto desigual ou desgaste prematuro da sondaOs furos de guia de precisão, com entradas de condução chanfradas e perfis de transparência otimizados, garantem uma compressão suave dos pinos pogo.e confiabilidade superior em ambientes ATE de alto rendimento.
Superfície e acabamento
  • Canais de contacto:Ra ≤ 0,2 μm (finitura espelhada)
  • Superfícies sem contacto:Ra ≤ 0,8 μm
  • Sem borbulhas:Bordas micro-descascadas, conformes com a norma ISO 13715
Opções de revestimentos e revestimentos protetores
  • Anodizantes de camada dura (alumínio)
  • Níquel sem eléctro (50-100 μin)
  • Flash de ouro (0,1-0,3 μin) para condutividade melhorada
Limpeza e embalagens
  • Embalagens para salas limpas da classe 100
  • Resíduo não volátil < 5 μg/cm2
  • Opção livre de íons disponível
Certificações
ISO 9001:2015
Vantagens técnicas
  • Fabricados a partir de polímeros equipados com CTE ou de compostos cerâmicos para resistência à distorção térmica
  • Manter a estabilidade dimensional a temperaturas > 150 °C durante os procedimentos HTOL e de queima
  • Previne a deformação, desalinhamento ou desacoplamento da sonda durante o ciclo térmico
  • Fabricação a partir de matérias sintéticas, não especificadas nem compreendidas noutras posições
  • Enchimentos de PTFE ou revestimentos de filme seco reduzem o atrito, a irritação e a geração de partículas
Com a sua engenharia de precisão, o Guia de Soquetes de Teste de Semicondutores garante integridade dimensional, durabilidade a longo prazo,e resultados de ensaio fiáveis, mesmo em condições mecânicas e térmicas exigentes.

etiqueta:

Soquete de ensaio de semicondutores,

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tomada de semicondutores

Contacto
Dongguan Yiding Technologies Co., Ltd.

Pessoa de Contato: Stacey

Telefone: 8618813380923

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