반도체 산업 IC 테스트 소켓, 1.5mm 초단 프로브

재료시방서: 스테인레스 스틸 17-4ph (표준), 베릴륨 구리 (고 사이클), 티타늄 (경량); 선택적 니켈 또는 금도 도금.

치수 공차: 중요한 특징 - ± 0.005 mm (장치 정렬); 전체 신체 - ± 0.02 mm

평탄도/coplanarity: 좌석 표면을 가로 질러 ≤0.01 mm (균일 한 접촉 압력을 보장).

핀/리드 채널 너비 및 깊이: 너비 - ± 0.003 mm; 깊이 - ± 0.005 mm (납 편향을 위해 조절 가능).

재료시방서: 스테인레스 스틸 17-4ph (표준), 베릴륨 구리 (고 사이클), 티타늄 (경량); 선택적 니켈 또는 금도 도금.

치수 공차: 중요한 특징 - ± 0.005 mm (장치 정렬); 전체 신체 - ± 0.02 mm

평탄도/coplanarity: 좌석 표면을 가로 질러 ≤0.01 mm (균일 한 접촉 압력을 보장).

핀/리드 채널 너비 및 깊이: 너비 - ± 0.003 mm; 깊이 - ± 0.005 mm (납 편향을 위해 조절 가능).