테스트 소켓은 반도체 장치의 전기적 특성을 측정하고 요구된 사양에 대한 준수 여부를 확인하기 위해 특별히 설계된 IC 소켓입니다.신청 요구 사항에 근거하여, 테스트 소켓은 일반적으로 두 가지 주요 유형으로 분류됩니다:
대량 생산 라인 기능 테스트 소켓- 반도체 제조의 후처리 단계에서 사용됩니다.
개발 단계의 특성 평가 소켓- 첫 번째 제품 또는 프로토 타입 장치의 성능을 평가하는 데 사용됩니다.
테스트 소켓 vs 번인 소켓 비교
테스트 소켓과 달리연소식 소재제품 내구성 및 신뢰성을 평가하기 위해 전력 상태에서 장기간 가속 테스트를 위해 설계되었습니다.태울 수 있는 소켓은 고온 환경에 견딜 수 있어야 하며, 일반적으로 직접 보드에 용접된다.대조적으로, 테스트 소켓은 대량 생산 과정 전반에 걸쳐 사용되며 유지 보수 및 교체 용이성을 위해 표면 장착 또는 나사 고정 장착 기능이 있습니다.
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