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Zoccolo di test per semiconduttori di precisione lavorato su misura ad alte prestazioni

Marchio:	Yiding
Moq:	5
Capacità di fornitura:	1000peice/settimana

Informazioni Dettagliate

Descrizione del prodotto

Informazioni Dettagliate

Luogo di origine:

Guangdong, Cina

Certificazione:

ISO 9001

Specificazione materiale:

Acciaio inossidabile 17-4ph (standard), rame di berillio (ciclo alto), titanio (leggero); nichel opz

Tolleranze dimensionali:

Caratteristiche critiche - ± 0,005 mm (allineamento del dispositivo); Corpo complessivo - ± 0,02 mm

Piattenezza/Coplanarità:

≤0,01 mm attraverso la superficie dei posti (garantisce una pressione di contatto uniforme).

Larghezza e profondità del canale pin/piombo:

Larghezza - ± 0,003 mm; Profondità - ± 0,005 mm (regolabile per la deflessione del piombo).

Precisione del pitch del canale pin/canale:

± 0,005 mm (ICS a punta fine), ± 0,01 mm (standard).

Evidenziare:

Zoccolo di test per semiconduttori di precisione lavorato

Zoccolo di test per semiconduttori ad alte prestazioni

Zoccolo per semiconduttori su misura

Descrizione del prodotto

Guida della presa di prova del semiconduttore

Visualizzazione del prodotto

La guida per le prese di prova dei semiconduttori è progettata per fornire prestazioni costanti su migliaia di inserzioni di prova.impedisce l'azione fuori asse che può causare una forza di contatto irregolare o un'usura prematura della sonda. fori di guida a macchina di precisione con conduzioni a camme e profili di apertura ottimizzati assicurano una compressione liscia dei perni pogo.e un'affidabilità superiore in ambienti ATE ad elevato throughput.

Superficie e finitura

Canali di contatto:Ra ≤ 0,2 μm (finitura a specchio)
Superfici senza contatto:Ra ≤ 0,8 μm
- Senza sbuffate:Conformi alla norma ISO 13715

Opzioni di rivestimento protettivo e rivestimento

Anodizzazione a strato rigido (alluminio)
Nickel inossidabile (50-100 μin)
Gold Flash (0,1-0,3 μin) per una maggiore conduttività

Pulizia e imballaggio

Imballaggi per ambienti puliti di classe 100
Residui non volatili < 5 μg/cm2
Opzione senza ioni disponibile

Certificazioni

ISO 9001:2015

Vantaggi tecnici

Prodotto a partire da polimeri o composti di ceramica riempiti di CTE per la resistenza alle distorsioni termiche
Mantenere la stabilità dimensionale a temperature > 150 °C durante le procedure HTOL e di combustione
Previene la deformazione, l'allineamento errata o la disimpegno della sonda durante il ciclo termico
Disegnate per inserimenti > 100 000 con materiali compositi di alta durezza e materiali resistenti all'abrasione
I riempitivi in PTFE o i rivestimenti a pellicola secca riducono l'attrito, l'irritazione e la generazione di particelle

Con la sua ingegneria di precisione, la Guida delle prese di prova dei semiconduttori garantisce integrità dimensionale, durabilità a lungo termine,e risultati di prova affidabili anche in condizioni meccaniche e termiche difficili.

Vantaggi del prodotto

Fabbricazione ad alta precisione: le macchine di taglio laser importate dalla Germania garantiscono una tolleranza di ± 0,1 mm.
Consegna rapida: Ordini standard spediti entro 3-7 giorni.
Personalizzazione flessibile: Supporta la prototipazione a singolo pezzo, la produzione a piccole quantità e su larga scala.
Controllo della qualità rigoroso: gestione della qualità certificata ISO9001, ispezione completa prima della spedizione.
Servizi completi: dall'ottimizzazione del design ai prodotti finiti, riducendo la dipendenza da più fornitori.

Tag:

Servizio di lavorazione a CNC

Servizio di tornitura CNC

Fabbricazione di lamiera

Parti dell'attrezzatura a semiconduttore

presa di prova

Servizi di lavorazione di fili EDM

Servizi di rettifica

dettagli dei prodotti

Zoccolo di test per semiconduttori di precisione lavorato su misura ad alte prestazioni

Zoccolo di test per semiconduttori di precisione lavorato su misura ad alte prestazioni

Zoccolo di test per semiconduttori di precisione lavorato

Zoccolo di test per semiconduttori ad alte prestazioni

Zoccolo per semiconduttori su misura

Vantaggi del prodotto

presa di prova per semiconduttori

presa di prova

zoccolo per semiconduttori

Soccetti di prova per circuiti integrati a trasmissione stabile

Sottili di prova per semiconduttori senza Burr con ingegneria di precisione a stretta tolleranza

Socket di prova IC per l'industria dei semiconduttori con sonda ultra corta da 1,5 mm