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Précisité de personnalisation Socket de test de semi-conducteurs usinés haute performance

Nom De La Marque:	Yiding
MOQ:	5
Capacité D'offre:	1000 personnes / semaine

Informations détaillées

Description du produit

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Lieu d'origine:

Guangdong, Chine

Certification:

ISO 9001

Spécifications matérielles:

Acier inoxydable 17-4ph (standard), cuivre béryllium (cycle élevé), titane (léger); Nickel ou placag

Tolérances dimensionnelles:

Caractéristiques critiques - ± 0,005 mm (alignement de l'appareil); Corps global - ± 0,02 mm

Planéité / coplanarité:

≤0,01 mm sur la surface des sièges (assure une pression de contact uniforme).

Largeur et profondeur du canal Pin / Lead:

Largeur - ± 0,003 mm; Profondeur - ± 0,005 mm (réglable pour la déviation du plomb).

Pinage de la hauteur du canal de broche / plomb:

± 0,005 mm (ICS à pas fin), ± 0,01 mm (standard).

Mettre en évidence:

Socket d'essai pour semi-conducteurs usinés de précision

Socket d'essai à haute performance pour semi-conducteurs

Socket de semi-conducteur personnalisé

Description du produit

Guide de Socket de Test pour Semi-conducteurs

Aperçu du Produit

Le Guide de Socket de Test pour Semi-conducteurs est conçu pour offrir des performances constantes sur des milliers d'insertions de test. En contrôlant le mouvement de l'axe vertical, il empêche l'actionnement hors axe qui peut provoquer une force de contact inégale ou une usure prématurée des sondes. Des trous de guidage usinés avec précision avec des entrées chanfreinées et des profils de dégagement optimisés assurent une compression en douceur des broches pogo. Le résultat est une résistance de contact reproductible, une durée de vie prolongée du socket et une fiabilité supérieure dans les environnements ATE à haut débit.

Surface et Finition

Canaux de Contact : Ra ≤ 0.2 µm (finition miroir)
Surfaces sans contact : Ra ≤ 0.8 µm
Sans bavure : Bords micro-ébavurés, conformes à la norme ISO 13715

Revêtements de protection et options de placage

Anodisation dure (Aluminium)
Nickel chimique (50-100 µin)
Flash Or (0.1-0.3 µin) pour une conductivité améliorée

Propreté et Emballage

Emballage en salle blanche de classe 100
Résidu non volatil <5 µg/cm²
Option sans ions disponible

Certifications

ISO 9001:2015 | IPC-9592 (Haute Fiabilité) | MIL-STD-883

Avantages Techniques

Fabriqué à partir de polymères adaptés au CTE ou de composés chargés de céramique pour une résistance à la distorsion thermique
Maintient la stabilité dimensionnelle à des températures >150 °C pendant les procédures HTOL et burn-in
Empêche le gauchissement, le désalignement ou le désengagement des sondes lors des cycles thermiques
Conçu pour >100 000 insertions avec des composites à haute dureté et des matériaux résistants à l'abrasion
Les charges de PTFE ou les revêtements en film sec réduisent le frottement, le grippage et la génération de particules

Grâce à sa conception de précision, le Guide de Socket de Test pour Semi-conducteurs assure l'intégrité dimensionnelle, la durabilité à long terme et des résultats de test fiables — même dans des conditions mécaniques et thermiques exigeantes.

Avantages du Produit

Fabrication de haute précision: Les machines de découpe laser importées d'Allemagne garantissent une tolérance de ±0,1 mm.
Livraison rapide: Commandes standard expédiées sous 3 à 7 jours.
Personnalisation flexible: Prend en charge le prototypage d'une seule pièce, les petites séries et la production à grande échelle.
Contrôle qualité strict: Gestion de la qualité certifiée ISO9001, inspection complète avant expédition.
Services complets: De l'optimisation de la conception aux produits finis, réduisant la dépendance à l'égard de plusieurs fournisseurs.

Les étiquettes:

service d'usinage à cnc

Service de tournage CNC

Fabrication de tôles

Pièces d'équipement de semi-conducteur

prise d'essai

Services d'usinage de fils électroniques

Services de rectification

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